262

"다중 메모리 블록을 동시에 고려하는 효율적인 BIRA 구조"
조기원, 김희태, 이예원, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

261

"다중 스캔 셀 고장 진단이 가능한 데이터 복제 하드웨어 구조"
김승환, 장석준, 임현찬, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

260

"진단 해상도 향상을 위한 다중 경로 스캔 구조"
장석준, 임현찬, 김승환, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

259

"인공신경망을 위한 회로 특징 추출법"
임현열, 김태현, 정민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

258

"GPU 기반 RA를 위한 데이터 전송 최소화 방법"
김태현, 임현열, 정민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

257

"메모리 테스트를 위한 Workload 기반의 BOST 시스템 구조"
문민호, 이영우 , 이영광 , 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

256

"메모리 수율 향상을 위한 동적 수리 가능성 탐색 방법론"
이하영, 한동현, 이승택, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

255

"고장 비율 및 수리 공정의 특성에 따른 알고리즘의 효과성 분석 "
한동현, 이하영, 이승택, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

254

"BOST 시스템에서 출력 핀 수를 줄이기 위한 고장 데이터 압축 방법"
이영광, 이영우, 문민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월

253

"저전력 테스트를 위한 회로 구조 테스트 용이성 분석 기반 스캔 체인 재배열 "
이상준, 오형교, 조경환, 강성호
2019년도 SOC학술대회
2019년 5월


[1][2][3][4][5][6][7][8][9][10] 다음 페이지>>