272 |
"스캔 체인을 통한 데이터 추출 및 주입을 이용한 post-silicon 디버깅 상황에서의 빠른 버그 재현 기법"
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271 |
"GPGPU를 활용한 회로 시뮬레이션"
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270 |
"쉬프트 레지스터 기반의 전원 공급원 부동 제어를 통한 TSV 간 저항성 단락 불량 테스트 개선 구조"
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269 |
"테스트 비용 절감을 위한 효율적인 BOST 시스템 "
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268 |
"Pivot 고장 저장 방식을 이용한 다중 뱅크 메모리 수율 향상 방법론"
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267 |
"다중 동일 코어를 위한 하이브리드 테스트 접근 메커니즘"
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266 |
"밀집된 TSV결함 수리를 위한 Checker-board 형태 구조 제안"
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265 |
"스캔 체인 내 다중 고장 진단을 위한 다중 경로 스캔 구조"
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264 |
"저전력 테스트를 위한 시뮬레이션 기반 X-filling 방법"
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263 |
"내장 하드웨어 오버헤드를 최소화한 block cipher 기반의 invasive 공격 검출회로"
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