253

"저전력 테스트를 위한 회로 구조 테스트 용이성 분석 기반 스캔 체인 재배열 "
이상준, 오형교, 조경환, 강성호
2019년도 SOC학술대회
2019년 5월

252

"3차원 반도체의 포스트 실리콘 디버그 과정을 위한 BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 디버깅 방법"
오형교, 이상준, 조경환, 강성호
2019년도 SOC학술대회
2019년 5월

251

"A Reduction of Redundancy Analysis Time for Memories with Overlap of Repair Block"
이승택, 이하영, 한동현, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

250

"테스트 패턴 리오더링을 통한 효율적 고장 진단"
장석준, 임현찬, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

249

"테스트 출력 압축이 가능한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조"
이영우, 서성열, 조기원, 문민호, 최인혁, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

248

"마치 알고리즘 테스트를 위한 Instruction 기반 메모리 BOST 시스템"
서성열, 문민호, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

247

"다층 Function-In-Memory에서의 효율적인 테스트 접근 구조"
이예원, 이인걸, 정민호, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

246

"다양한 예비자원 구조를 활용한 메모리 수리 방법론"
이하영, 한동현, 이승택, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

245

"NTV 환경에서 합선 고장을 고려한 테스트 방법"
이상준, 오형교, 김희태, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월

244

"A Redundancy Architecture for Repairing Systolic Array MAC"
이인걸, 정민호, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월


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