227

"고장 그룹화 및 고장 그룹 분류 기반 메모리 수리 방법론"
이하영, 김주영, 김동현, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

226

"Cube-based TSV Redundancy Architecture for yield improvement of 3D-ICs "
정민호, 이인걸, 장재원, 박재석, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

225

"Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test"
서성열, 조기원, 이영우, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

224

"Modeling and Analysis of TSV-to-TSV Resistive Bridge Defect"
이영우, 정민호, 박기현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

223

"다중 메모리 블록 환경에서의 2D BIRA 하드웨어 구조"
김주영, 조기원, 이하영, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

222

"A New Hardware Efficient Built-In Redundancy Analysis"
강소연, 서성열, 임현찬, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

221

"Reducing the Test Time for Bridge Faults by Critical Resistance Analysis"
김희태, 임재일, 오형교, 최인혁, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

220

"그룹 간 예비 자원 공유를 통한 TSV의 수리 기법"
정민호, 이인걸, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

219

"이중캡쳐를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법"
임현열, 김태현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

218

"Hardware Efficient Redundant TSV Architecture for Clustered Faults in 3-D IC"
이인걸, 정민호, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월