317

"다중 단계를 활용한 머신 러닝 로직 진단 기법"
윤효준, 임현찬, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

316

"키 재활용을 통한 RTL에서의 효율적 로직 라킹 기법"
김원준, 장석준, 원두연, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

315

"다중 메모리 테스트를 위한 효율적인 고장 비트맵 구조"
신승호, 이수령, 이주용, 이하영, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

314

"결함 없는 영역 분석을 통한 효율적인 BISR"
윤준식, 이하영, 정화영, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

313

"고대역폭 메모리 수율 향상을 위한 On-Die ECC 활용 RA"
김병수, 이영광, 신승호, 유연우, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

312

"오류 정정 능력 향상을 위한 메타데이터 재구성 기반의 Two-Tiered ECC"
문영기, 신승호, 원두연, 김원준, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

311

"비용 및 성능 최적화를 위한 그래프 이론 기반 부분 스캔 알고리즘"
정재영, 이상준, 박종호, 김재현, 정래상, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

310

"Row hammer 해결을 위한 효율적인 행 활성화 빈도 추적 기반 방법론"
정화영, 이하영, 윤준식, 이수령, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

309

"TSV 수리 구조를 위한 경로 선택 가능한 Die Wrapper Register 구조"
김성훈, 한동현, 장석준, 문영기, 원두연, 김원준, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02

308

"로직 토폴로지 기반 부분 스캔 삽입 방법"
이상준, 정재영, 김재현, 정래상, 강성호
제25회 한국 테스트 학술대회
2024.07.02