290

"개선된 순환 기반 TSV 수리 구조"
이영광, 한동현, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

289

"저전압용 인공지능 가속기를 위한 시스톨릭 배열 기반 테스트 방법"
이상준, 박종호, 이인환, 박성환, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

288

"다중 경로 스캔 구조 기반의 보안 스캔 회로"
장석준, 김성훈, 문영기, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

287

"아웃풋 데이터의 보안 성능 개선을 위한 키 기반의 로직 암호화 기법"
문영기, 장석준, 김성훈, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

286

"고장 검출률 향상을 위한 메모리 구조 기반 패턴 생성 기법"
유연우, 이하영, 신승호, 이수령, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

285

"자가 테스트에서 고장 검출 향상을 위한 패턴 교정 다중 주기 테스트"
박성환, 이상준, 박종호, 이인환, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

284

"수정된 스캔 셀을 활용한 최대 해상도의 Hold Time Fault 스캔 체인 진단"
이주용, 김태현, 임현찬, 윤효준, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

283

"수리율 향상을 위한 시프팅 구조 기반의 TSV 수리 구조"
한동현, 이영광, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

282

"3차원 집적 회로 수율 향상을 위한 스위치 행렬 기반 TSV 수리 기법"
이하영, 이수령, 신승호, 유연우, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

281

"Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
반도체공학회
2021.12.15


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