281

"Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
반도체공학회
2021.12.15

280

"머신 러닝을 활용한 Transition Delay Fault를 위한 스캔 체인 진단"
윤효준, 임현찬, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

279

"테스트 시간 감축을 위한 Quick-scan TSV 테스트 구조 제안"
이수령, 이영광, 한동현, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

278

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법"
이인환, 이상준, 박종호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

277

"Method for Accelerating Test Point Insertion"
김경빈, 정민호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

276

"로직비스트에서 클락 게이팅 셀을 이용한 캡쳐 파워 감소"
박종호, 이상준, 이인환, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

275

"데이터 복사를 통한 다중 스캔 셀 고장 진단이 가능한 스캔 구조"
김성훈, 장석준, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

274

"3D-IC 수율 향상을 위한 메모리 수리 최적화 방법론"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

273

"비스트 수행 시간 감소를 위한 효율적인 스캔 셀 배열 기법"
이권형, 임현찬, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

272

"스캔 체인을 통한 데이터 추출 및 주입을 이용한 post-silicon 디버깅 상황에서의 빠른 버그 재현 기법"
우형일,이하영, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월


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