265 |
"스캔 체인 내 다중 고장 진단을 위한 다중 경로 스캔 구조"
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264 |
"저전력 테스트를 위한 시뮬레이션 기반 X-filling 방법"
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263 |
"내장 하드웨어 오버헤드를 최소화한 block cipher 기반의 invasive 공격 검출회로"
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262 |
"다중 메모리 블록을 동시에 고려하는 효율적인 BIRA 구조"
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261 |
"다중 스캔 셀 고장 진단이 가능한 데이터 복제 하드웨어 구조"
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260 |
"진단 해상도 향상을 위한 다중 경로 스캔 구조"
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259 |
"인공신경망을 위한 회로 특징 추출법"
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258 |
"GPU 기반 RA를 위한 데이터 전송 최소화 방법"
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257 |
"메모리 테스트를 위한 Workload 기반의 BOST 시스템 구조"
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256 |
"메모리 수율 향상을 위한 동적 수리 가능성 탐색 방법론"
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