275

"데이터 복사를 통한 다중 스캔 셀 고장 진단이 가능한 스캔 구조"
김성훈, 장석준, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

274

"3D-IC 수율 향상을 위한 메모리 수리 최적화 방법론"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

273

"비스트 수행 시간 감소를 위한 효율적인 스캔 셀 배열 기법"
이권형, 임현찬, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

272

"스캔 체인을 통한 데이터 추출 및 주입을 이용한 post-silicon 디버깅 상황에서의 빠른 버그 재현 기법"
우형일,이하영, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

271

"GPGPU를 활용한 회로 시뮬레이션"
김태현, 임현찬, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

270

"쉬프트 레지스터 기반의 전원 공급원 부동 제어를 통한 TSV 간 저항성 단락 불량 테스트 개선 구조"
목정일, 임현찬, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

269

"테스트 비용 절감을 위한 효율적인 BOST 시스템 "
이영광, 윤효준, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

268

"Pivot 고장 저장 방식을 이용한 다중 뱅크 메모리 수율 향상 방법론"
김호경, 이하영, 김지혜, 장석준, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

267

"다중 동일 코어를 위한 하이브리드 테스트 접근 메커니즘"
이상준, 박종호, 조경환, 최성기, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월

266

"밀집된 TSV결함 수리를 위한 Checker-board 형태 구조 제안"
박상민, 정민호, 조기원, 강성호
제21회 한국 테스트 학술대회
2020년 10월