285

"자가 테스트에서 고장 검출 향상을 위한 패턴 교정 다중 주기 테스트"
박성환, 이상준, 박종호, 이인환, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

284

"수정된 스캔 셀을 활용한 최대 해상도의 Hold Time Fault 스캔 체인 진단"
이주용, 김태현, 임현찬, 윤효준, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

283

"수리율 향상을 위한 시프팅 구조 기반의 TSV 수리 구조"
한동현, 이영광, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

282

"3차원 집적 회로 수율 향상을 위한 스위치 행렬 기반 TSV 수리 기법"
이하영, 이수령, 신승호, 유연우, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

281

"Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
반도체공학회
2021.12.15

280

"머신 러닝을 활용한 Transition Delay Fault를 위한 스캔 체인 진단"
윤효준, 임현찬, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

279

"테스트 시간 감축을 위한 Quick-scan TSV 테스트 구조 제안"
이수령, 이영광, 한동현, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

278

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법"
이인환, 이상준, 박종호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

277

"Method for Accelerating Test Point Insertion"
김경빈, 정민호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월

276

"로직비스트에서 클락 게이팅 셀을 이용한 캡쳐 파워 감소"
박종호, 이상준, 이인환, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
2021년 7월