295

"차량용 반도체를 위한 효율적인 자가 테스트 패턴 생성"
박종호, 이상준, 박성환, 김혜민, 정재영, 강성호
제24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월

294

"셀 어웨어 스캔 고장 진단을 위한 엣지 셀렉터블 스캔 플립플롭"
임현찬, 김태현, 강성호
제24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월

293

"System ECC의 정정 데이터를 활용한 TSV의 실시간 수리 방법"
한동현, 이영광, 강성호
제24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월

292

"명령어 집합 기반의 루프 합성을 이용한 고속 ALPG"
이수령, 이주용, 이하영, 강성호
제24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월

291

"테스트 비용 감소를 위한 메모리 고장 데이터 처리 구조"
이하영, 이수령, 이주용, 강성호
제24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월

290

"개선된 순환 기반 TSV 수리 구조"
이영광, 한동현, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

289

"저전압용 인공지능 가속기를 위한 시스톨릭 배열 기반 테스트 방법"
이상준, 박종호, 이인환, 박성환, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

288

"다중 경로 스캔 구조 기반의 보안 스캔 회로"
장석준, 김성훈, 문영기, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

287

"아웃풋 데이터의 보안 성능 개선을 위한 키 기반의 로직 암호화 기법"
문영기, 장석준, 김성훈, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월

286

"고장 검출률 향상을 위한 메모리 구조 기반 패턴 생성 기법"
유연우, 이하영, 신승호, 이수령, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월