297 |
"머신 러닝 기반의 고속 로직 진단 기법"
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296 |
"저전력 인공지능 가속기를 위한 테스트-리커버리 구조"
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295 |
"차량용 반도체를 위한 효율적인 자가 테스트 패턴 생성"
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294 |
"셀 어웨어 스캔 고장 진단을 위한 엣지 셀렉터블 스캔 플립플롭"
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293 |
"System ECC의 정정 데이터를 활용한 TSV의 실시간 수리 방법"
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292 |
"명령어 집합 기반의 루프 합성을 이용한 고속 ALPG"
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291 |
"테스트 비용 감소를 위한 메모리 고장 데이터 처리 구조"
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290 |
"개선된 순환 기반 TSV 수리 구조"
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289 |
"저전압용 인공지능 가속기를 위한 시스톨릭 배열 기반 테스트 방법"
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288 |
"다중 경로 스캔 구조 기반의 보안 스캔 회로"
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