315 |
"다중 메모리 테스트를 위한 효율적인 고장 비트맵 구조"
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314 |
"결함 없는 영역 분석을 통한 효율적인 BISR"
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313 |
"고대역폭 메모리 수율 향상을 위한 On-Die ECC 활용 RA"
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312 |
"오류 정정 능력 향상을 위한 메타데이터 재구성 기반의 Two-Tiered ECC"
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311 |
"비용 및 성능 최적화를 위한 그래프 이론 기반 부분 스캔 알고리즘"
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310 |
"Row hammer 해결을 위한 효율적인 행 활성화 빈도 추적 기반 방법론"
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309 |
"TSV 수리 구조를 위한 경로 선택 가능한 Die Wrapper Register 구조"
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308 |
"로직 토폴로지 기반 부분 스캔 삽입 방법"
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307 |
"Streaming Scan Network 환경에서의 테스트 스케줄링"
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306 |
"다중 여분 셀 구조를 활용한 GPU 기반 수리 기법"
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