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337 |
"메모리 수리를 위한 동형 결함 그룹 기반 솔루션 맵 구조"
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336 |
"Registered-PI 구조를 이용한 Scan Delay Test의 결함 검출 효율 및 Coverage 향상 기법"
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335 |
"저전력 Scan Test를 위한 지배 조합 기반 패턴 내 신호 확률 계산 대상 미 결정 비트 최소화 방법"
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334 |
"덧셈기 트리 기반 PIM 로직의 저면적 테스트 구조"
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333 |
"게이트-레벨 확률 기반 스위칭 모델을 활용한 스캔 시프트 전력 추정 기법"
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332 |
"그래프 기반 고신뢰성 셀어웨어 모델 생성 알고리즘"
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331 |
"HBM 신뢰성 확보를 위한 Post-bond 및 온라인 통합 TSV 자가 수리 구조"
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330 |
"높은 압축률을 위한 핀별 메모리 테스트 벡터 압축 알고리즘"
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329 |
"인공지능 기반 메모리 RA 추론 결과를 위한 GPU 병렬 처리 최적화 기법"
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328 |
"다중 메모리 테스트를 위한 균등 부하 RA 기법"
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