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347 |
"3D-IC 신뢰성 향상을 위한 MBISR 기반 TSV 자가 테스트 구조"
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346 |
"잠재적 Must-Repair 기반의 고대역폭 메모리 결함 데이터 압축 기법"
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345 |
"HBM-PIM을 위한 연산 특성 반영 테스트 용이화 설계"
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344 |
"HBM 테스트 결과 데이터를 위한 모드 기반의 분리형 계층 압축 기법"
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343 |
"회로 구조적 동치성을 활용한 노화 모니터링 플립플롭 최소화 기법"
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342 |
"잠재 결함 스트레스 테스트를 위한 효율적인 패턴 생성 기법"
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341 |
"간헐적 고장 환경을 위한 높은 정확도의 구조 인지형 GNN 기반 스캔 체인 진단"
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340 |
"셀 내부 결함의 구조적 검출 가능성 비용 기반 결함 우선순위화 방법"
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339 |
"UCIe 링크의 조기 레인 열화 대응을 위한 예측 수리 정책"
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338 |
"IEEE 1838 호환 세그먼트 기반 칩렛 인터커넥트 크로스톡 테스트 구조"
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