232

"캡쳐 파워 감소를 위한 다중 X-filling 방법"
김희태, 오형교, 임재일, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

231

"Redundant TSV Placement for Reliable Improvements of 3D-IC Logic"
이인걸, 정민호, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

230

"Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법"
서성열, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

229

"라우팅 길이의 감소를 위한 스캔 셀 방향 재배열 방법"
김정환, 강소연, 임현찬,강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

228

"효율적인 X-마스킹 컨트롤 데이터 압축 방법"
강소연, 김정환, 임현찬, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

227

"고장 그룹화 및 고장 그룹 분류 기반 메모리 수리 방법론"
이하영, 김주영, 김동현, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

226

"Cube-based TSV Redundancy Architecture for yield improvement of 3D-ICs "
정민호, 이인걸, 장재원, 박재석, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

225

"Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test"
서성열, 조기원, 이영우, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

224

"Modeling and Analysis of TSV-to-TSV Resistive Bridge Defect"
이영우, 정민호, 박기현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월