252 |
"3차원 반도체의 포스트 실리콘 디버그 과정을 위한 BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 디버깅 방법"
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251 |
"A Reduction of Redundancy Analysis Time for Memories with Overlap of Repair Block"
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250 |
"테스트 패턴 리오더링을 통한 효율적 고장 진단"
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249 |
"테스트 출력 압축이 가능한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조"
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248 |
"마치 알고리즘 테스트를 위한 Instruction 기반 메모리 BOST 시스템"
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247 |
"다층 Function-In-Memory에서의 효율적인 테스트 접근 구조"
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246 |
"다양한 예비자원 구조를 활용한 메모리 수리 방법론"
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245 |
"NTV 환경에서 합선 고장을 고려한 테스트 방법"
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244 |
"A Redundancy Architecture for Repairing Systolic Array MAC"
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