12

"순차회로를 위한 효율적인 지연고장 테스트 알고리듬"
허경회, 강용석, 강성호
제 6회 반도체 학술대회지
pp.833-835, 1999년 11월

11

"동적 전원 전류를 이용한 새로운 SRAM Transparent 테스트"
김홍식, 강성호
추계 전기학회 학술대회지
pp.803-806, 1999년 11월

10

"보드 연결선에서의 지연고장 검출을 위한 새로운 경계스캔 구조"
신종철, 김현진, 강성호
제6회 반도체 학술대회지
pp.533-534, 1999년 2월

9

"샘플링 확률을 이용한 효율적인 가중치 집합 생성"
이항규, 강성호
제6회 반도체 학술대회지
pp.405-406, 1999년 2월

8

"경계 주사 환경에서의 상호 연결 테스트 방법론에 대한 연구"
김현진, 신종철, 강성호
추계 전자공학회 학술대회지
pp.669-671, 1998년 11월

7

"내장된 자체테스트 기법을 이용한 이웃패턴 감응 고장 진단"
양명훈, 이종철, 강용석, 강성호
추계 전자공학회 학술대회지
pp.669-671, 1998년 11월

6

"샘플링을 이용한 설계 오류 시뮬레이션과 시뮬레이션 검증율"
이항규, 강성호
시뮬레이션 학술대회지
pp.459-462, 1997년 2월

5

"Testable DRAM Design"
강성호
제4회 반도체 학술대회지
pp.459-462, 1997년 5월

4

"이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효율적인 메모리 검사 알고리듬"
이종철, 강용석, 강성호
추계 전자공학회 학술대회지
19권 2호 pp.1005-1008, 1996년 11월