282

"3차원 집적 회로 수율 향상을 위한 스위치 행렬 기반 TSV 수리 기법"
이하영, 이수령, 신승호, 유연우, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

281

"Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
반도체공학회
, 2021.12.15

280

"머신 러닝을 활용한 Transition Delay Fault를 위한 스캔 체인 진단"
윤효준, 임현찬, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

279

"테스트 시간 감축을 위한 Quick-scan TSV 테스트 구조 제안"
이수령, 이영광, 한동현, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

278

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법"
이인환, 이상준, 박종호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

277

"Method for Accelerating Test Point Insertion"
김경빈, 정민호, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

276

"로직비스트에서 클락 게이팅 셀을 이용한 캡쳐 파워 감소"
박종호, 이상준, 이인환, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

275

"데이터 복사를 통한 다중 스캔 셀 고장 진단이 가능한 스캔 구조"
김성훈, 장석준, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

274

"3D-IC 수율 향상을 위한 메모리 수리 최적화 방법론"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월