72 |
"An Efficient Diagnosis Algorithm for Multiple Stuck-at Faults"
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71 |
"A New Test Methodology for Word-Oriented Memories"
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70 |
"Layout을 고려한 저전력 테스트 패턴 생성"
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69 |
"저전력 자체 테스트를 위한 패턴 생성기"
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68 |
"An Efficient Test Pattern Generator for Low Power BIST"
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67 |
"결정 패턴 내장 BIST를 위한 효율적인 Reseeding 방법"
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66 |
"An Efficient Logic Built-In Self-Test Using Clustered RIN Scheme"
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65 |
"온칩네트워크 기반 효과적인 테스트 스케쥴링 방법"
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64 |
"XOR 트리를 사용한 테스트 데이터의 압축"
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