82

"Advanced ADC BIST Based on Histogram Testing"
김기철, 김유빈, 김인철, 강성호
제14회 한국 반도체 학술대회 논문집
pp.763-764, 2007년 2월

81

"하드웨어 오버헤드를 줄인 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법"
김기철, 송동섭, 김유빈, 김인철, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.143-147, 2006년 6월

80

"Signal integrity를 고려한 효과적인 테스트패턴 생성방안"
김용준, 양명훈, 박영규, 이대열, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.187-192, 2006년 6월

79

"유사 랜덤 BIST 기반의 통합 스캔 천이 감소를 위한 구조"
김유빈, 송동섭, 김기철, 김인철, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.87-91, 2006년 6월

78

"이중 포트 메모리를 위한 최적의 테스트 및 진단 알고리즘"
박영규, 양명훈, 김용준, 이대열, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.151-156, 2006년 6월

77

"파워를 고려한 Rectangle Packing 방식 기반 NoC 테스트 스케쥴링"
안진호, 김근배, 김일웅, 강일권, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.211-219, 2006년 6월

76

"Split LFSR을 이용한 저전력 결정 패턴 내장 BIST"
양명훈, 이대열, 박영규, 김용준, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.93-98, 2006년 6월

75

"FDR 코드를 이용한 효율적인 연결선 자체 테스트 구조"
이대열, 양명훈, 김용준, 박영규, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.193-198, 2006년 6월

74

"패턴 비교를 이용한 효율적인 고장진단 방안"
조형준, 이주환, 임요섭, 강성호
2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집
pp.43-47, 2006년 6월