112 |
"Linemap을 이용한 고효율의 BIRA 알고리즘"
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111 |
"고속 programmable DRAM BIST 구조"
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110 |
"LTPS TFT-LCD 게이트 구동회로의 새로운 테스트 기법"
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109 |
"Virtual Reduction of Smax for Efficient Test Compression"
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108 |
"모델링 되지 않은 고장을 효과적으로 검출하기 위한 나인코디드 압축 기법"
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107 |
"다중 스캔 체인을 대상으로 한 결정적 테스트 패턴 압축 기법"
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106 |
"스캔 체인 재구성을 이용한 효과적인 테스트 데이터 압축"
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105 |
"최대 구간 길이가 제한된 RL-huffman 압축 향상 기법"
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104 |
"An Efficient ATPG for Crosstalk-Induced Delay Faults"
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