292 |
"명령어 집합 기반의 루프 합성을 이용한 고속 ALPG"
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291 |
"테스트 비용 감소를 위한 메모리 고장 데이터 처리 구조"
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290 |
"개선된 순환 기반 TSV 수리 구조"
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289 |
"저전압용 인공지능 가속기를 위한 시스톨릭 배열 기반 테스트 방법"
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288 |
"다중 경로 스캔 구조 기반의 보안 스캔 회로"
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287 |
"아웃풋 데이터의 보안 성능 개선을 위한 키 기반의 로직 암호화 기법"
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286 |
"고장 검출률 향상을 위한 메모리 구조 기반 패턴 생성 기법"
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285 |
"자가 테스트에서 고장 검출 향상을 위한 패턴 교정 다중 주기 테스트"
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284 |
"수정된 스캔 셀을 활용한 최대 해상도의 Hold Time Fault 스캔 체인 진단"
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