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132	"압축 테스트 패턴을 통한 효율적인 다중 고장 진단 방법" 임요섭, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
131	"입력선택을 이용한 새로운 테스트벡터 압축 기법" 임재일, 홍혜정, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
130	"내장된 이중 포트 메모리를 위한 programmable 메모리 BIST" 박영규, 박재석, 강성호 제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest pp.-, 2010년 2월
129	"디지털-아날로그 변환기의 내장 자체 테스트 설계" 김인철, 장재원, 손현욱, 김기철, 강성호 제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest pp.-, 2010년 2월
128	"LTPS TFT-LCD 데이터 구동회로 내부의 DAC를 위한 자체 테스트 기법" 손현욱, 장재원, 김유빈, 김기철, 김인철, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
127	"고성능 테스트 압축을 위한 스캔 슬라이스 인코딩 기법" 김용준, 박재석, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
126	"A New Scan Reordering Method for Low Power Testing" 김연선, 강성호 10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
125	"고장 영향 전파 분석을 통한 다중 결함 진단 방법" 임요섭, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
124	"SOC를 위한 고효율 및 저비용 지연 고장 테스트" 손창원, 김용준, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월

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