142 |
"X-포용 컴팩터 행렬 최적화 기법"
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141 |
"메모리 수율 향상을 위한 메모리 테스트의 효율적인 초기 종결 조건"
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140 |
"이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 Programmable Memory BIST"
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139 |
"다중 링 Shared Memory BIST 구조"
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138 |
"테스트패턴 checksum을 통한 write,read pattern 이상 판별 기법"
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137 |
"진보된 memory BIST 검증 방법"
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136 |
"고성능 디지털-아날로그 변환기 테스트를 위한 저비용 결정론적 DEM 아날로그-디지털 변환기의 구조"
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135 |
"연속된 동일 블럭을 이용한 테스트 데이터 압축"
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134 |
"고장 그룹을 이용한 고속 BIRA(Built-In Redundancy Analysis) 알고리즘"
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