152

"최소한의 시간으로 메모리를 수리하기 위한 리던던시 분석 알고리즘"
조형준, 강우헌, 강성호
제13회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2012년 6월

151

"Multi I / O 동시 Repair 구조에서의 저항성 Column Fuse 불량에 대한 효과적인 Screen 방안"
성형수, 송경근, 남상균, 윤건상, 강성호
제13회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2012년 6월

150

"SoC 내부의 내장된 메모리를 위한 IEEE 1500 표준 기반의 프로그램 가능한 메모리 BIST"
박영규, 이용, 최인혁, 강성호
제13회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2012년 6월

149

"전압 하한선을 이용하여 NBTI를 고려한 DVFS 방법"
임재일, 홍혜정, 강성호
2012년도 SOC학술대회
pp.-, 2012년 4월

148

"히스토그램 방식을 이용하지 않는 ADC의 정적 파라미터 측정"
손현욱, 김인철, 장재원, 강성호
제12회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2011년 6월

147

"고속 메모리 테스트를 위한 타이밍 포메터 구조"
박재석, 이인걸, 박영석, 류경호, 조강욱, 강성호
제12회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2011년 6월

146

"기하학적 고장 기반의 효율적인 BIRA 알고리즘"
강우헌, 조형준, 강성호
제12회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2011년 6월

145

"MPT에서 멀티 root DUT를 이용한 고장 적응 경로 설정 방법"
김학송, 이용, 한동관, 엄경운, 강성호
제12회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2011년 6월

144

"Customer를 위한 SiP용 DRAM BIST 구조"
박기현, 김일웅, 강성호
12회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2011년 6월


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