152 |
"최소한의 시간으로 메모리를 수리하기 위한 리던던시 분석 알고리즘"
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151 |
"Multi I / O 동시 Repair 구조에서의 저항성 Column Fuse 불량에 대한 효과적인 Screen 방안"
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150 |
"SoC 내부의 내장된 메모리를 위한 IEEE 1500 표준 기반의 프로그램 가능한 메모리 BIST"
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149 |
"전압 하한선을 이용하여 NBTI를 고려한 DVFS 방법"
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148 |
"히스토그램 방식을 이용하지 않는 ADC의 정적 파라미터 측정"
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147 |
"고속 메모리 테스트를 위한 타이밍 포메터 구조"
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146 |
"기하학적 고장 기반의 효율적인 BIRA 알고리즘"
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145 |
"MPT에서 멀티 root DUT를 이용한 고장 적응 경로 설정 방법"
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144 |
"Customer를 위한 SiP용 DRAM BIST 구조"
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