162 |
"Eye-diagram 예측을 위한 고속 I/O 의 자체내장 테스트 기법"
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161 |
"행 그룹화 방식을 통한 DRAM 성능 개선"
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160 |
"3D-IC 환경에서 DFT회로를 이용한 효과적인 TSV 테스트 방법"
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159 |
"Star Topology Test Architecture for Multi-site Testing"
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158 |
"일시적 잡음구간 보정을 통한 고신뢰성 ADC 테스트 기법 개발"
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157 |
"차량용 전자 시스템을 위한 온라인 테스트 인터페이스"
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156 |
"다중주파수 동작제품에 대한 At-Speed Functional Test 방법"
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155 |
"고속 메모리 테스트를 위한 듀얼 채널 타이밍 포매터 구조"
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154 |
"효율적인 후보 선택 알고리듬을 통한 다중 결함 진단 방안"
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