182 |
"3D-IC 환경에서 XOR 네트워크를 활용한 효과적인 저전력 스캔 테스트 방법"
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181 |
"A Test Access Mechanism for Parallel Test of On-Chip Embedded Instruments"
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180 |
"병렬비교 고속 I/O 테스트 기법 개발"
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179 |
"A parallel Test Access Strategy for Multiple Identical Cores in Network-on-Chip"
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178 |
"스테이지 고장검출을 통한 파이프라인 ADC 테스트 기법"
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177 |
"온도 예측을 통한 3차원 구조 DRAM의 refresh 전력관리 기법"
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176 |
"A spare Pivot Re-setting BIRA Algorithm with Optimized Hardware Overhead"
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175 |
"스트림 프리페치에서의 프리페치 정확도를 높이기 위한 프리페치 매개변수 조절"
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174 |
"3D IC를 위한 저전력 테스트 패턴 재배열"
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