192 |
"전파조건 기반의 관측 가능한 코드 커버리지"
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191 |
"P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플래시 메모리 자체 테스트 기법"
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190 |
"BRANCH 단일 분석기의 ROS 최적화 방안"
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189 |
"커버리지 기반 검증을 위한 이행 검증 패턴 생성 방법에 관한 연구"
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188 |
"실시간 트레이스 버퍼를 이용한 효율적 하드웨어 디버그 압축 기법"
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187 |
"3D IC를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법"
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186 |
"3D IC를 위한 스캔 셀 재배열을 이용한 저전력 테스트 방법"
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185 |
"A Study on Optimized Setting Time and Device Interface Board Application for Measuring Static Current of the Device with Capacitor Applications"
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184 |
"최적화된 instruction 생성 기법을 사용한 programmable 메모리 BIST"
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