17 |
"Two-way Pattern Generator"
|
16 |
"경계 주사구조를 위한 범용 테스트 제어기의 구현"
|
15 |
"이중포트 메모리를 위한 효율적인 고장진단 테스트"
|
14 |
"다중 드라이버 네트에서 워킹 원 시퀀스를 사용한 고장 진단과 검출"
|
13 |
"고성능 DSP 아키텍쳐 설계에 관한 연구"
|
12 |
"순차회로를 위한 효율적인 지연고장 테스트 알고리듬"
|
11 |
"동적 전원 전류를 이용한 새로운 SRAM Transparent 테스트"
|
10 |
"보드 연결선에서의 지연고장 검출을 위한 새로운 경계스캔 구조"
|
9 |
"샘플링 확률을 이용한 효율적인 가중치 집합 생성"
|
<<이전페이지 [31][32] |