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75	"FDR 코드를 이용한 효율적인 연결선 자체 테스트 구조" 이대열, 양명훈, 김용준, 박영규, 강성호 2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.193-198, 2006년 6월
74	"패턴 비교를 이용한 효율적인 고장진단 방안" 조형준, 이주환, 임요섭, 강성호 2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.43-47, 2006년 6월
73	"이중 포트 메모리의 효율적인 테스트 알고리즘" 박영규, 양명훈, 김용준, 이대열, 강성호 2006년도 SOC 학술대회 pp.67-72, 2006년 5월
72	"An Efficient Diagnosis Algorithm for Multiple Stuck-at Faults" 임요섭, 이주환, 조형준, 강성호 2006년도 SOC 학술대회 pp.394-397, 2006년 5월
71	"A New Test Methodology for Word-Oriented Memories" 강일권, 김근배, 양명훈, 강성호 2006년도 SOC 학술대회 pp.375-381, 2006년 5월
70	"Layout을 고려한 저전력 테스트 패턴 생성" 김용준, 전성훈, 이민주, 강성호 2005년도 제6회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.89-93, 2005년 7월
69	"저전력 자체 테스트를 위한 패턴 생성기" 김인철, 송동섭, 김기철, 강성호 2005년도 제6회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.83-88, 2005년 7월
68	"An Efficient Test Pattern Generator for Low Power BIST" 김기철, 송동섭, 김인철, 강성호 2005년도 제6회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.79-82, 2005년 7월
67	"결정 패턴 내장 BIST를 위한 효율적인 Reseeding 방법" 양명훈, 이 용, 김유빈, 강성호 2005년도 제6회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.65-70, 2005년 7월

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