57 |
"An Efficient matching Algorithm using the Number of Primary Outputs for Fault Diagnosis"
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56 |
"A New Low Power Test Generator for BIST Architecture"
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55 |
"루프 검출 및 예측 방법을 적용한 비용 효율적인 실시간 분기 흐름 검사 기법"
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54 |
"스캔 경로 장애의 효율적인 고장 진단 방법"
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53 |
"Increasing Encoding Efficiency of LFSR Reseeding Based Test Compression"
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52 |
"SoC 환경에서 Run-length Code를 사용한 새로운 압축기법"
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51 |
"A New SoC Test Scheduling Algorithm using Random Insertion"
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50 |
"An Efficient Architecture of Finding Bit Position for IPv6"
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49 |
"SOC환경에서 Zero Detected Run-length Code(ZDR)을 사용한 새로운 압축기법"
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