67 |
"결정 패턴 내장 BIST를 위한 효율적인 Reseeding 방법"
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66 |
"An Efficient Logic Built-In Self-Test Using Clustered RIN Scheme"
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65 |
"온칩네트워크 기반 효과적인 테스트 스케쥴링 방법"
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64 |
"XOR 트리를 사용한 테스트 데이터의 압축"
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63 |
"고장 진단을 위해 출력 단자수를 고려한 효율적인 매칭 알고리즘"
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62 |
"임계 경로 추적을 이용한 효과적인 고장 진단"
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61 |
"High Correlative Low Power Test Pattern Generator Using a Transition Monitoring Window"
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60 |
"효율적인 IP Address Lookup을 위한 Multi-Prefix Binary Tree구조"
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59 |
"SoC 환경에서 Grouping Run-length Code를 사용한 새로운 압축기법"
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