85 |
"디지털 신호 이용한 위상 고정 루프 자체 내장 테스트 기법"
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84 |
"A New Efficient IP Address Lookup Based on Binary Search"
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83 |
"An Efficient Test Algorithm for Neighborhood Pattern Sensitive Faults of DRAM With 6F2 Open Bit-Line Arrangement and Diagonal Active Area"
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82 |
"Advanced ADC BIST Based on Histogram Testing"
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81 |
"하드웨어 오버헤드를 줄인 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법"
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80 |
"Signal integrity를 고려한 효과적인 테스트패턴 생성방안"
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79 |
"유사 랜덤 BIST 기반의 통합 스캔 천이 감소를 위한 구조"
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78 |
"이중 포트 메모리를 위한 최적의 테스트 및 진단 알고리즘"
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77 |
"파워를 고려한 Rectangle Packing 방식 기반 NoC 테스트 스케쥴링"
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