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87	"빠른 고장 진단을 위해 고장 점수를 이용한 고장 탈락 방법" 이주환, 임요섭, 강성호 2007년도 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2007년 6월
86	"효과적인 PLL 테스트 비용 절감 방법" 전준우, 옥재철, 김학봉, 김기철, 김유빈, 강성호 2007년도 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2007년 6월
85	"디지털 신호 이용한 위상 고정 루프 자체 내장 테스트 기법" 김유빈, 김기철, 김인철, 손현욱, 강성호 2007년도 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2007년 6월
84	"A New Efficient IP Address Lookup Based on Binary Search" 김현식, 박현태, 강대인, 강성호 2007년도 SoC 학술대회 pp.-, 2007년 5월
83	"An Efficient Test Algorithm for Neighborhood Pattern Sensitive Faults of DRAM With 6F2 Open Bit-Line Arrangement and Diagonal Active Area" 임종수, 안진호, 김일웅, 강일권, 김근배, 강성호 제14회 한국 반도체 학술대회 논문집 pp.801-802, 2007년 2월
82	"Advanced ADC BIST Based on Histogram Testing" 김기철, 김유빈, 김인철, 강성호 제14회 한국 반도체 학술대회 논문집 pp.763-764, 2007년 2월
81	"하드웨어 오버헤드를 줄인 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법" 김기철, 송동섭, 김유빈, 김인철, 강성호 2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.143-147, 2006년 6월
80	"Signal integrity를 고려한 효과적인 테스트패턴 생성방안" 김용준, 양명훈, 박영규, 이대열, 강성호 2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.187-192, 2006년 6월
79	"유사 랜덤 BIST 기반의 통합 스캔 천이 감소를 위한 구조" 김유빈, 송동섭, 김기철, 김인철, 강성호 2006년도 제7회 한국 테스트 학술대회 논문집 pp.87-91, 2006년 6월

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