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115	"자체 내장 테스트를 통한 저속 ATE에서의 고속 테스트 방안" 정우식, 김일웅, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
114	"명령어의 동적 입력이 가능한 DRAM BIST 구조" 김일웅, 양동훈, 김근배, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
113	"고속 메모리 테스트를 위한 위상 변이 클럭을 사용한 병렬 ALPG" 윤현준, 양명훈, 김용준, 박영규, 박재석, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
112	"Linemap을 이용한 고효율의 BIRA 알고리즘" 한태우, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
111	"고속 programmable DRAM BIST 구조" 박기현, 김일웅, 이종철, 양동훈, 김근배, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
110	"LTPS TFT-LCD 게이트 구동회로의 새로운 테스트 기법" 욱, 김유빈, 장재원, 김기철, 김인철, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
109	"Virtual Reduction of Smax for Efficient Test Compression" Hong-Sik Kim and Sungho Kang 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
108	"모델링 되지 않은 고장을 효과적으로 검출하기 위한 나인코디드 압축 기법" 장재원, 김유빈, 김기철, 김인철, 손현욱, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월
107	"다중 스캔 체인을 대상으로 한 결정적 테스트 패턴 압축 기법" 안성용, 김유빈, 김용준, 강성호 2008년도 제9회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2008년 6월

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