135 |
"연속된 동일 블럭을 이용한 테스트 데이터 압축"
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134 |
"고장 그룹을 이용한 고속 BIRA(Built-In Redundancy Analysis) 알고리즘"
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133 |
"동일한 BL Stress를 인가하기 위한 새로운 테스트 패턴 구현" "
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132 |
"압축 테스트 패턴을 통한 효율적인 다중 고장 진단 방법"
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131 |
"입력선택을 이용한 새로운 테스트벡터 압축 기법"
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130 |
"내장된 이중 포트 메모리를 위한 programmable 메모리 BIST"
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129 |
"디지털-아날로그 변환기의 내장 자체 테스트 설계"
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128 |
"LTPS TFT-LCD 데이터 구동회로 내부의 DAC를 위한 자체 테스트 기법"
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127 |
"고성능 테스트 압축을 위한 스캔 슬라이스 인코딩 기법"
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