135

"연속된 동일 블럭을 이용한 테스트 데이터 압축"
이인걸, 박재석, 강성호
제11회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2010년 6월

134

"고장 그룹을 이용한 고속 BIRA(Built-In Redundancy Analysis) 알고리즘"
조형준, 강우헌, 강성호
제11회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2010년 6월

133

"동일한 BL Stress를 인가하기 위한 새로운 테스트 패턴 구현" "
신효영, 강성호, 한상신, 조돈구, 박정식
제11회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2010년 6월

132

"압축 테스트 패턴을 통한 효율적인 다중 고장 진단 방법"
임요섭, 강성호
제11회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2010년 6월

131

"입력선택을 이용한 새로운 테스트벡터 압축 기법"
임재일, 홍혜정, 강성호
제11회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2010년 6월

130

"내장된 이중 포트 메모리를 위한 programmable 메모리 BIST"
박영규, 박재석, 강성호
제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest
pp.-, 2010년 2월

129

"디지털-아날로그 변환기의 내장 자체 테스트 설계"
김인철, 장재원, 손현욱, 김기철, 강성호
제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest
pp.-, 2010년 2월

128

"LTPS TFT-LCD 데이터 구동회로 내부의 DAC를 위한 자체 테스트 기법"
손현욱, 장재원, 김유빈, 김기철, 김인철, 강성호
제10회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2009년 6월

127

"고성능 테스트 압축을 위한 스캔 슬라이스 인코딩 기법"
김용준, 박재석, 강성호
제10회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2009년 6월


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