127 |
"고성능 테스트 압축을 위한 스캔 슬라이스 인코딩 기법"
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126 |
"A New Scan Reordering Method for Low Power Testing"
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125 |
"고장 영향 전파 분석을 통한 다중 결함 진단 방법"
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124 |
"SOC를 위한 고효율 및 저비용 지연 고장 테스트"
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123 |
"연결선의 Signal Integrity 테스트 시간 감소를 위한 새로운 패턴 생성기"
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122 |
"고장 라인정보를 이용한 고효율의 BIRA 알고리즘"
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121 |
"Leading element를 이용한 효율적인 BIRA 알고리즘"
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120 |
"높은 수리 효율 가지는 효율적인 BIRA 방법론"
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119 |
"메모리 사용을 감소시킨 Deep Packet Inspection을 위한 비트 분리 스트링 매치 엔진"
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