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128	"LTPS TFT-LCD 데이터 구동회로 내부의 DAC를 위한 자체 테스트 기법" 손현욱, 장재원, 김유빈, 김기철, 김인철, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
127	"고성능 테스트 압축을 위한 스캔 슬라이스 인코딩 기법" 김용준, 박재석, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
126	"A New Scan Reordering Method for Low Power Testing" 김연선, 강성호 10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
125	"고장 영향 전파 분석을 통한 다중 결함 진단 방법" 임요섭, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
124	"SOC를 위한 고효율 및 저비용 지연 고장 테스트" 손창원, 김용준, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
123	"연결선의 Signal Integrity 테스트 시간 감소를 위한 새로운 패턴 생성기" 이근수, 김용준, 박현태, 손현욱, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월
122	"고장 라인정보를 이용한 고효율의 BIRA 알고리즘" 한태우, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp., 2009.06.24.
121	"Leading element를 이용한 효율적인 BIRA 알고리즘" 강우헌, 양명훈, 조형준, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp., 2009.06.24
120	"높은 수리 효율 가지는 효율적인 BIRA 방법론" 양명훈, 조형준, 강우헌, 강성호 제10회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2009년 6월

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