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137	"진보된 memory BIST 검증 방법" 한동관, 박지연, 김영식, 김남도, 천범익, 김기섭, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
136	"고성능 디지털-아날로그 변환기 테스트를 위한 저비용 결정론적 DEM 아날로그-디지털 변환기의 구조" 장재원, 손현욱, 김인철, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
135	"연속된 동일 블럭을 이용한 테스트 데이터 압축" 이인걸, 박재석, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
134	"고장 그룹을 이용한 고속 BIRA(Built-In Redundancy Analysis) 알고리즘" 조형준, 강우헌, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
133	"동일한 BL Stress를 인가하기 위한 새로운 테스트 패턴 구현" " 신효영, 강성호, 한상신, 조돈구, 박정식 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
132	"압축 테스트 패턴을 통한 효율적인 다중 고장 진단 방법" 임요섭, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
131	"입력선택을 이용한 새로운 테스트벡터 압축 기법" 임재일, 홍혜정, 강성호 제11회 한국 테스트 학술대회 pp.-, 2010년 6월
130	"내장된 이중 포트 메모리를 위한 programmable 메모리 BIST" 박영규, 박재석, 강성호 제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest pp.-, 2010년 2월
129	"디지털-아날로그 변환기의 내장 자체 테스트 설계" 김인철, 장재원, 손현욱, 김기철, 강성호 제17회 한국반도체학술대회 Chip Design Contest pp.-, 2010년 2월

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