167

"Pre-bond와 post-bond 테스트 위한 리던던시 공유를 활용한 RA (redundancy analysis) 방법"
이창욱, 강우헌, 심휴석, 성석현, 조돈구, 강성호
제14회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2013년 6월

166

"Die Stacking Order for Thermal Management in 3D ICs under Process Variations"
홍혜정, 임재일, 임현열, 강성호
제14회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2013년 6월

165

"시스템 온 칩 환경에서 버스트 클럭 컨트롤러를 이용한 효과적인 RPCT방법"
이용, 서성열, 김학송, 이주환, 김영부, 홍규식, 강성호
제14회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2013년 6월

164

"Memory-on-logic 3D IC를 위한 메모리 테스트 구조"
김일웅, 강성호
14회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2013년 6월

163

"3D IC를 위한 새로운 메모리 스케줄링 알고리즘"
박기현, 우수해, 강성호
제14회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2013년 6월

162

"Eye-diagram 예측을 위한 고속 I/O 의 자체내장 테스트 기법"
장재원, 손현욱, 강성호
2013년도 SOC학술대회
pp.-, 2013년 5월

161

"행 그룹화 방식을 통한 DRAM 성능 개선"
우수해, 박기현, 강성호
2013년도 SOC학술대회
pp.-, 2013년 5월

160

"3D-IC 환경에서 DFT회로를 이용한 효과적인 TSV 테스트 방법"
이용, 박영규, 김일웅, 강성호
제13회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2012년 6월

159

"Star Topology Test Architecture for Multi-site Testing"
한동관, 김지혜, 정근영, 천범익, 강성호
제13회 한국 테스트 학술대회
pp.-, 2012년 6월


<<이전페이지 [11][12][13][14][15][16][17][18][19][20] 다음 페이지>>