|
195 |
"다양한 예비셀 구조를 가진 메모리의 must-repair 분석 방법"
|
|
194 |
"3차원 구조 DRAM의 refresh 전력관리를 위한 온도 분포 분석 기법"
|
|
193 |
"코어 기반 3차원 적층 다이의 적응 병렬 테스트 접근 구조"
|
|
192 |
"전파조건 기반의 관측 가능한 코드 커버리지"
|
|
191 |
"P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플래시 메모리 자체 테스트 기법"
|
|
190 |
"BRANCH 단일 분석기의 ROS 최적화 방안"
|
|
189 |
"커버리지 기반 검증을 위한 이행 검증 패턴 생성 방법에 관한 연구"
|
|
188 |
"실시간 트레이스 버퍼를 이용한 효율적 하드웨어 디버그 압축 기법"
|
|
187 |
"3D IC를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법"
|
| <<이전페이지 [11][12][13][14][15][16][17][18][19][20] 다음 페이지>> |