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187	"3D IC를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법" 임현열, 임재일, 박기현, 강성호 2015년도 동계종합학술발표대회 , 2015년 1월
186	"3D IC를 위한 스캔 셀 재배열을 이용한 저전력 테스트 방법" 강우헌, 이용, 서성열, 강성호 2015년도 동계종합학술발표대회 , 2015년 1월
185	"A Study on Optimized Setting Time and Device Interface Board Application for Measuring Static Current of the Device with Capacitor Applications" 이영우, 오강훈, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
184	"최적화된 instruction 생성 기법을 사용한 programmable 메모리 BIST" 박기현, 우수해, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
183	"A New Result Extraction Scheme for efficient TSV Test" 박재석, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
182	"3D-IC 환경에서 XOR 네트워크를 활용한 효과적인 저전력 스캔 테스트 방법" 이용, 서성열, 임현열, 강우헌, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
181	"A Test Access Mechanism for Parallel Test of On-Chip Embedded Instruments" 최인혁, 한태우, 오형교, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
180	"병렬비교 고속 I/O 테스트 기법 개발" 장재원, 손현욱, 김희태, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월
179	"A parallel Test Access Strategy for Multiple Identical Cores in Network-on-Chip" 한태우, 최인혁, 오형교, 강성호 제15회 한국 테스트 학술대회 , 2014년 6월

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