197 |
"3차원 반도체의 소프트 오류 검출을 위한 BIST 구조"
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196 |
"하드웨어 디버그 시간 단축을 위한 선택적 데이터 압축 방법"
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195 |
"다양한 예비셀 구조를 가진 메모리의 must-repair 분석 방법"
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194 |
"3차원 구조 DRAM의 refresh 전력관리를 위한 온도 분포 분석 기법"
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193 |
"코어 기반 3차원 적층 다이의 적응 병렬 테스트 접근 구조"
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192 |
"전파조건 기반의 관측 가능한 코드 커버리지"
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191 |
"P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플래시 메모리 자체 테스트 기법"
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190 |
"BRANCH 단일 분석기의 ROS 최적화 방안"
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189 |
"커버리지 기반 검증을 위한 이행 검증 패턴 생성 방법에 관한 연구"
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