215 |
"테스트 병렬성 확대를 위한 2-stage 하이브리드 셀프테스트 구조"
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214 |
"NTV 환경에서의 합선 고장 검출 향상을 위한 테스트 패턴 생성 방법"
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213 |
"고장 분류 기반 early termination 방법"
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212 |
"TSV Group Architecture for Repair 3D IC"
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211 |
"테스트 병렬성 확대를 위한 SoC 자가 테스트 방법론"
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210 |
"Path Ordering for Delay Testing under Process Variation"
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209 |
"Timing Exception Path Masking Program"
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208 |
"CAM Structure of Built-in Redundancy Analysis Hardware"
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207 |
"NTV 회로의 온도 편차와 테스트 신뢰성에 관한 고찰"
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