225 |
"Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test"
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224 |
"Modeling and Analysis of TSV-to-TSV Resistive Bridge Defect"
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223 |
"다중 메모리 블록 환경에서의 2D BIRA 하드웨어 구조"
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222 |
"A New Hardware Efficient Built-In Redundancy Analysis"
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221 |
"Reducing the Test Time for Bridge Faults by Critical Resistance Analysis"
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220 |
"그룹 간 예비 자원 공유를 통한 TSV의 수리 기법"
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219 |
"이중캡쳐를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법"
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218 |
"Hardware Efficient Redundant TSV Architecture for Clustered Faults in 3-D IC"
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217 |
"집단 고장을 고려한 불균형 배치된 TSV의 수리 기법 연구"
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