208 |
"CAM Structure of Built-in Redundancy Analysis Hardware"
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207 |
"NTV 회로의 온도 편차와 테스트 신뢰성에 관한 고찰"
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206 |
"고신뢰성 낸드플래시를 위한 페이지그룹 에러정정부호"
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205 |
"실리콘 제작 후 디버깅을 위해 에러 태그를 사용한 2-D 압축 기반의 선택적 데이터 수집"
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204 |
"양산 단계에서 요구되는 SPI ROM 버전 업데이트 자동화에 관한 연구"
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203 |
"테스트 시간 절감을 위해 2 단계 테스트 패턴을 사용한 고속 스캔 시프트 방법"
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202 |
"작은 하드웨어를 이용한 다양한 스페어 구조를 위한 스페어 병렬 분석기"
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201 |
"패턴 호환성을 이용한 테스트 데이터 압축"
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200 |
"3D-IC를 위한 TSV 제약조건에서의 모듈 기반 스캔 스티칭"
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