237

"Tri-State 검출 회로를 이용한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조"
이영우, 서성열, 조기원, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

236

"예비 자원 간 신호 전달을 통한 TSV 수리 기법"
정민호, 이인걸, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

235

"ECC를 사용하는 메모리의 수율 향상을 위한 퓨즈 구조"
김동현, 이하영, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

234

"GPU Fault Map을 활용한 고장 허용 범위 증가를 위한 스케줄링 방법"
이동수, 임현열, 김태현, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

233

"Frequency Controlled Kernel Replication Algorithm for GPGPU Reliability"
김태현, 임현열, 이동수, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

232

"캡쳐 파워 감소를 위한 다중 X-filling 방법"
김희태, 오형교, 임재일, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

231

"Redundant TSV Placement for Reliable Improvements of 3D-IC Logic"
이인걸, 정민호, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

230

"Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법"
서성열, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월

229

"라우팅 길이의 감소를 위한 스캔 셀 방향 재배열 방법"
김정환, 강소연, 임현찬,강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
, 2017년 6월