247 |
"다층 Function-In-Memory에서의 효율적인 테스트 접근 구조"
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246 |
"다양한 예비자원 구조를 활용한 메모리 수리 방법론"
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245 |
"NTV 환경에서 합선 고장을 고려한 테스트 방법"
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244 |
"A Redundancy Architecture for Repairing Systolic Array MAC"
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243 |
"GPGPU를 활용한 RA 속도 향상 방법"
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242 |
"메모리 모니터링 시스템을 통한 GPGPU 체크포인트 최적화 방법"
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241 |
"메모리 예비자원 사용 효율을 고려한 3차원 메모리 수리 기법"
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240 |
"3차원 반도체에서 테스트 발열을 고려한 테스트 스케쥴링 기법"
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239 |
"A New Scan Architecture for Concurrent Test using IEEE std. 1687"
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