257

"메모리 테스트를 위한 Workload 기반의 BOST 시스템 구조"
문민호, 이영우 , 이영광 , 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
, 2019년 6월

256

"메모리 수율 향상을 위한 동적 수리 가능성 탐색 방법론"
이하영, 한동현, 이승택, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
, 2019년 6월

255

"고장 비율 및 수리 공정의 특성에 따른 알고리즘의 효과성 분석 "
한동현, 이하영, 이승택, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
, 2019년 6월

254

"BOST 시스템에서 출력 핀 수를 줄이기 위한 고장 데이터 압축 방법"
이영광, 이영우, 문민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
, 2019년 6월

253

"저전력 테스트를 위한 회로 구조 테스트 용이성 분석 기반 스캔 체인 재배열 "
이상준, 오형교, 조경환, 강성호
2019년도 SOC학술대회
, 2019년 5월

252

"3차원 반도체의 포스트 실리콘 디버그 과정을 위한 BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 디버깅 방법"
오형교, 이상준, 조경환, 강성호
2019년도 SOC학술대회
, 2019년 5월

251

"A Reduction of Redundancy Analysis Time for Memories with Overlap of Repair Block"
이승택, 이하영, 한동현, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
, 2018년 6월

250

"테스트 패턴 리오더링을 통한 효율적 고장 진단"
장석준, 임현찬, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
, 2018년 6월

249

"테스트 출력 압축이 가능한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조"
이영우, 서성열, 조기원, 문민호, 최인혁, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
, 2018년 6월