287

"아웃풋 데이터의 보안 성능 개선을 위한 키 기반의 로직 암호화 기법"
문영기, 장석준, 김성훈, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

286

"고장 검출률 향상을 위한 메모리 구조 기반 패턴 생성 기법"
유연우, 이하영, 신승호, 이수령, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

285

"자가 테스트에서 고장 검출 향상을 위한 패턴 교정 다중 주기 테스트"
박성환, 이상준, 박종호, 이인환, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

284

"수정된 스캔 셀을 활용한 최대 해상도의 Hold Time Fault 스캔 체인 진단"
이주용, 김태현, 임현찬, 윤효준, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

283

"수리율 향상을 위한 시프팅 구조 기반의 TSV 수리 구조"
한동현, 이영광, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

282

"3차원 집적 회로 수율 향상을 위한 스위치 행렬 기반 TSV 수리 기법"
이하영, 이수령, 신승호, 유연우, 강성호
제23회 한국 테스트 학술대회
, 2022년 6월

281

"Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis"
이하영, 신승호, 유연우, 강성호
반도체공학회
, 2021.12.15

280

"머신 러닝을 활용한 Transition Delay Fault를 위한 스캔 체인 진단"
윤효준, 임현찬, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월

279

"테스트 시간 감축을 위한 Quick-scan TSV 테스트 구조 제안"
이수령, 이영광, 한동현, 강성호
제22회 한국 테스트 학술대회
, 2021년 7월


[1][2][3][4][5][6][7][8][9][10] 다음 페이지>>