227

"고장 그룹화 및 고장 그룹 분류 기반 메모리 수리 방법론"
이하영, 김주영, 김동현, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

226

"Cube-based TSV Redundancy Architecture for yield improvement of 3D-ICs "
정민호, 이인걸, 장재원, 박재석, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

225

"Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test"
서성열, 조기원, 이영우, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
, 2017년 2월

224

"Modeling and Analysis of TSV-to-TSV Resistive Bridge Defect"
이영우, 정민호, 박기현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월

223

"다중 메모리 블록 환경에서의 2D BIRA 하드웨어 구조"
김주영, 조기원, 이하영, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월

222

"A New Hardware Efficient Built-In Redundancy Analysis"
강소연, 서성열, 임현찬, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월

221

"Reducing the Test Time for Bridge Faults by Critical Resistance Analysis"
김희태, 임재일, 오형교, 최인혁, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월

220

"그룹 간 예비 자원 공유를 통한 TSV의 수리 기법"
정민호, 이인걸, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월

219

"이중캡쳐를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법"
임현열, 김태현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
, 2016년 6월