11

"회로 기판상의 연결 테스트에 대한 분할 그룹 워킹 시퀀스"
김현진, 신종철, 강성호
전기학회 논문지
47권 12호 pp.2251-2257, 1998년 12월

10

"가중치 집합 최적화를 통한 효율적인 가중 무작위 패턴 생성"
이항규, 김홍식, 강성호
전자공학회 논문지
35권 C편 9호 pp.707-715, 1998년 9월

9

"병렬 테스트 방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법"
이종철, 강용석, 강성호
전자공학회 논문지
35권 C편 8호 pp.614-626, 1998년 8월

8

"Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법"
강용석, 이종철, 강성호
전자공학회 논문지
35권 C편 8호 pp.605-613, 1998년 8월

7

"혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기"
김홍식, 이항규, 강성호
전기학회 논문지
47권 7호 pp.1015-1022, 1998년 7월

6

"다중 보드 접근을 위한 새로운 IEEE 표준 1149.1 Backplane 테스트 확장"
임용태, 김현진, 강성호
정보처리학회 논문지
5권 2호 pp.558-571, 1998년 2월

5

"빠른 무해 인식에 의한 효율적인 테스트 패턴 생성"
한상윤, 강성호
전자공학회 논문지
34권 C편 8호 pp.579-588, 1997년 8월

4

"미지구조 기능 블록에 대한 경로 지연고장 검사입력 생성기"
임용태, 강성호
전기학회 논문지
46권 2호 pp.272-278, 1997년 2월

3

"고집적 회로에 대한 고속 경로지연 고장 시뮬레이터"
임용태, 강용석, 강성호
정보처리학회 논문지
4권 1호 pp.298-310, 1997년 2월

2

"회로 분할법에 의한 정확한 논리 시뮬레이션"
오상호, 조동균, 강성호
시뮬레이션학회 논문지
5권 2호 pp.73-83, 1996년 12월